| 圖 片 |
設備名稱 |
制造商 |
型號 |
年份 |
詳細配置 |
狀 態 |
 |
KLA EDR-7380缺陷檢測設備 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
12"設備完整不缺件,300mm在線熱機; |
國外
|
 |
KLA STARLIGHT301(300SL)測量設備 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA SP1-TBI測量設備 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA SCD-XT測量設備 |
KLA |
SCD-XT |
- |
12"設備完整不缺件,有3臺現貨; |
國外
|
|
KLA Archer A300 AIM測量設備 |
KLA |
Archer A300 AIM |
2010 |
設備完整不缺件,日本倉庫中; |
國外
|
|
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA |
SP2 |
- |
設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國外
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
設備完整不缺件,有2臺現貨,安裝調試+質保6個月; |
國內
|
|
KLA ES31量測設備 |
KLA |
ES31 |
- |
300mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA 2131晶圓表面檢測設備 |
KLA |
2131 |
- |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA FLX2908晶圓表面檢測設備 |
KLA |
FLX2908 |
- |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA SF4500晶圓表面檢測設備 |
KLA |
SF4500 |
- |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA AWUS3110晶圓探針臺 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA UV1250SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1250SE |
- |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA AIT-3缺陷檢測系統 |
KLA |
AIT-3 |
- |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA 2139缺陷檢測系統 |
KLA |
2139 |
- |
200mm設備完整不缺件,設備狀態差; |
國外
|
|
KLA ARCHER 10套刻精度測量設備 |
KLA |
ARCHER 10 |
- |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA 2131光罩缺陷檢測設備 |
KLA |
2131 |
- |
150mm設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA 2401缺陷檢測設備 |
KLA |
2401 |
- |
200mm設備完整不缺件; |
國外
|
 |
KLA SF27缺陷檢測 |
KLA |
SF27 |
- |
設備完整不缺件; |
國內
|
 |
KLA candela CS20表面分析儀 |
KLA |
CS20 |
2010 |
設備完整不缺件; |
國內
|
 |
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
設備完整不缺件; |
國內
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA |
SP2 |
2011 |
設備完整不缺件,在線熱機,晶圓片300mm; |
國外
|
 |
KLA Candela 8420表面缺陷檢測系統 |
KLA |
Candela 8420 |
2020 |
6"設備完整不缺件,20年入廠,設備九成新以上,安裝調試加20萬元 |
國內
|
|
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更換,最后一次PM于2023 |
國外
|
 |
KLA P15臺階儀 |
KLA |
P15 |
- |
設備完整不缺件,質保3月加3萬元; |
國內
|
 |
KLA RS55方阻測試儀 |
KLA |
RS55 |
2000 |
設備完整不缺件,有2臺現貨(有臺缺件,打包賣+20W); |
國內
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA |
SFS6420 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國外
|
 |
KLA 2132缺陷檢測儀 |
KLA |
2132 |
1996 |
設備完整不缺件,安裝調試加70W左右,備件成本太高; |
國內
|
 |
KLA 2135缺陷檢測 |
KLA |
2135 |
1998 |
在線熱機,設備完整不缺件,安裝調試加10W; |
國內
|
|
KLA Tencor CS10 R表面分析儀 |
KLA |
CS10 R |
- |
- |
國外
|
|
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA |
SFS6420 |
2007 |
- |
國外
|
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測系統 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
設備完整不缺件,在線熱機在亞洲; |
國外
|
|
KLA Tencor 8620晶圓檢測系統 |
KLA |
8620 |
- |
- |
國外
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測系統 |
KLA |
SFS6200 |
1995 |
設備完整不缺件; |
國外
|
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測系統 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
美國在線熱機,用于4英寸和6英寸; |
國外
|
 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圓檢測,300/200mm x 3個端口,設備在 |
國外
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP2 |
2001 |
設備缺件; |
國內
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圓檢測 |
KLA科磊 |
SFS6420 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1280SE |
2001 |
用途：薄膜測量系統
型號：UV1280SE
出廠日期：2001 |
國外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
已翻新; |
國外
|
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完無缺件,可驗機保固3個月; |
國內
|
|
KLA Leica INS3000側掃聲納 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
有2臺,月底賣掉.. |
國外
|
 |
KLA Tencor RS-75薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
RS-75 |
- |
設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA |
SFS6220 |
- |
設備完整不缺件,正運回中國; |
國內
|
 |
KLA Tencor 6400晶圓檢測設備 |
KLA科磊 |
6400 |
1994 |
競標中.. |
國外
|
 |
KLA Tencor 7700缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
1997 |
- |
國外
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
2001 |
設備完整不缺件; |
國內
|
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測系統 |
KLA |
SFS6200 |
1992 |
設備完整不缺件; |
國內
|
 |
KLA SURFSCAN 4500顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
4500 |
- |
4" |
國外
|
 |
KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
SP3 |
2014 |
在線熱機,2月份拆機; |
國外
|
|
KLA Surfscan SP5晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Surfscan SP5 |
- |
設備完整不缺件; |
已售出
|
|
KLA 2131缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
2131 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA Viper 2401缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Viper 2401 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA Tencor 7700缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA AIT 1缺陷測試儀 |
KLA科磊 |
AIT 1 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA Kevex 7600顆粒測試儀 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"備件機; |
國內
|
|
KLA OP2600膜厚儀 |
KLA |
OP2600 |
- |
設備完整不缺件,正運回中國; |
國內
|
|
KLA CI-T130 lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
1 |
國外
|
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
2 |
國外
|
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T120 |
- |
3 |
國外
|
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
1 |
國外
|
|
KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
4 |
國外
|
|
KLA CI-T830 Lead scanner掃腳機 |
KLA科磊 |
CI-T830 |
- |
1 |
國外
|
|
KLA Industrial Camera工業相機 |
KLA科磊 |
IVC-1600 |
- |
2 |
國外
|
|
KLA Industrial Camera工業相機 |
KLA科磊 |
IVC-2000 |
- |
2 |
國外
|
|
KLA IVC-4000缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
IVC-4000 |
- |
1 |
國外
|
|
KLA-Tencor (ICOS) CD測量 |
KLA科磊 |
Manual |
- |
1 |
國外
|
|
KLA-Tencor (ICOS) CD測量 |
KLA科磊 |
ICOS6100_7.6 |
- |
1 |
國外
|
|
KLA FLX-5400 Flexus晶圓翹曲度測量儀 |
KLA科磊 |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
已打包 |
國外
|
|
KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測儀 |
KLA科磊 |
SFS6220 |
1999 |
設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA Surfscan SP3(上料機構) |
KLA科磊 |
SP3 |
2012.3 |
上料機構; |
國外
|
|
KLA Surfscan SP2晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP2 |
2011 |
設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA UV-1050薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV-1050 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where-Is;含軟件及硬盤 |
國外
|
|
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where-Is;不含硬盤 |
國外
|
|
KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬盤; |
國外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
Equipment Make: KLA-Tencor
Equ |
國外
|
 |
HITACHI KLA8100掃描電鏡 |
HITACHI |
KLA8100 |
- |
6"有1臺; |
已售出
|
|
KLA 2131缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
2131 |
- |
6"有1臺; |
已售出
|
 |
KLA RS75方阻測試儀 |
KLA |
RS75 |
2000 |
設備完整不缺件; |
國內
|
|
KLA Leica INM300金相顯微鏡 |
KLA |
INM300 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA P-15單向節流閥 |
KLA科磊 |
P-15 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA PHX DF 5.0缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
PHX DF 5.0 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA Ultrascan 9300掩模版檢測設備 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9300 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA Ultrascan 9000光測量系統 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9000 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA AFS-3220晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
AFS-3220 |
- |
8 As-is |
國外
|
|
KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測 |
KLA科磊 |
SP3 |
- |
設備完整不缺件,含序列號; |
國內
|
|
KLA Surfscan SP1 DLS晶圓檢測儀 |
KLA科磊 |
SP1-DLS |
- |
6-12 As-is |
國外
|
|
KLA ACROTEC6020晶圓缺陷檢測設備 |
KLA科磊 |
ACROTEC 6020 |
- |
Inspection system/PC/HDD. |
國外
|
 |
KLA 8935-FFC AOI晶圓檢測設備 |
KLA |
8935-FFC |
2022 |
設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2000 |
Film Thickness Measurement |
國外
|
|
KLA Filmetrics F20薄膜測厚儀 |
KLA科磊 |
F20 |
2021 |
Thickness Measurement |
國外
|
|
KLA ADE 9500晶圓計量與檢測設備 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
Multifunctional measurement |
國外
|
|
KLA-Tencor M-Gage 300薄膜電阻測量設備 |
KLA科磊 |
M-Gage 300 |
2001 |
Al Thickness measurement 8寸 |
國外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
有兩臺 |
國外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測系統 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2000 |
Kla-tencor One Technology Driveu |
已售出
|
|
KLA FLX2908缺陷檢測設備 |
KLA |
FLX2908 |
- |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA Tencor 8620晶圓檢測系統 |
KLA |
8620 |
- |
12"設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國外
|
|
KLA 2350晶圓檢測設備 |
KLA |
2350 |
- |
8"設備完整不缺件; |
國外
|
|
KLA EDR 5200+電子束缺陷檢查設備 |
KLA |
5200+ |
- |
設備完整不缺件,無硬盤; |
國內
|
|
KLA CANDELA CS2薄膜測量 |
KLA |
CANDELA CS2 |
- |
- |
國內
|
|
KLA AIT Ⅱ缺陷檢測儀 |
KLA科磊 |
AIT Ⅱ |
1999 |
METROLOGY |
國外
|
|
KLA EDR-5210S晶圓缺陷檢查系統 |
KLA科磊 |
EDR-5210S |
2011 |
METROLOGY |
國外
|
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜測量系統 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2003 |
METROLOGY |
國外
|
|
KLA AIT II-I缺陷檢查儀 |
KLA |
AIT II-I |
2001 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA 2133缺陷檢查儀 |
KLA |
2133 |
2011 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA 2132缺陷檢測儀 |
KLA |
2132 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA CRS1010缺陷檢查儀 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR AIT 8010缺陷檢查儀 |
KLA |
TENCOR AIT 8010 |
1998 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR SFS 7700顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7700 |
1995*2 |
設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR SFS 7600顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7600 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR SFS 7600M顆粒測試儀 |
KLA |
TENCOR SFS 7600M |
1994/1995 |
設備完整不缺件,有2臺現貨; |
國內
|
|
KLA RS55方阻測試儀 |
KLA |
RS55 |
2000 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
已售出
|
|
KLA TENCOR VP10E阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR VP10E |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR VP10阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR VP10 |
1995 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA TENCOR Mgage300阻值測試儀 |
KLA |
TENCOR Mgage300 |
1993 |
設備完整不缺件,有1臺現貨; |
國內
|
|
KLA Tencor 2552缺陷數據分析處理儀 |
KLA科磊 |
2552 |
- |
As-is |
國外
|
|
KLA Spectra FX200薄膜量測 |
KLA |
FX200 |
2008 |
設備完整不缺件,在新加坡; |
國外
|
|
KLA Viper 2435晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2435 |
2006 |
- |
國外
|
|
KLA Viper 2438晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2438 |
2008 |
- |
國外
|
|
KLA Spectra FX200薄膜量測 |
KLA |
FX200 |
2006 |
[Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al |
國外
|
|
KLA CRS1010晶圓載臺控制器 |
KLA科磊 |
CRS1010 |
1998 |
Microscope |
國外
|
|
KLA Polylite 88薄膜測量系統 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
- |
國外
|
|
KLA Viper 2438晶圓檢測設備 |
KLA |
Viper 2438 |
2010 |
- |
國外
|
|
KLA Tencor ES31晶圓檢查系統 |
KLA |
ES31 |
2004 |
E-beam Inspection / SEMs in Micro |
國外
|
|
KLA DP2缺陷檢測設備 |
KLA |
DP2 |
2012 |
DP2 Data Prep Station |
國外
|
 |
KLA 8920i AOI晶圓檢測設備 |
KLA |
8920i |
2022 |
設備完整不缺件,國內交貨; |
國外
|
|
KLA 8935i AOI晶圓檢測設備 |
KLA |
8935i |
2022 |
設備完整不缺件; |
國外
|
 |
KLA 2132缺陷檢測儀 |
KLA |
2132 |
1996 |
設備完整不缺件; |
國內
|
|
KLA P170探針式表面檢測儀 |
KLA |
P170 |
2022 |
設備完整不缺件; |
國內
|
|
KLA NANOMAPPER表面輪廓儀 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
[As-is] 2x Open Foup type, Kensin |
國外
|
|
KLA HRP-340表面輪廓測量系統 |
KLA |
HRP-340 |
2004 |
2port(Asyst ISO port), stage lock |
國外
|
|
KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測 |
KLA |
EDR-5210 |
- |
2x Load port( Brooks, Brooks Robo |
國外
|
|
KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2xLoad port(Brooks FixLoad), Robo |
國外
|
|
KLA Puma 9130晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9130 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI |
已售出
|
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[As-is] Handler missing, Dell pow |
國外
|
|
KLA WI-2280晶圓檢測機臺 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
國外
|
|
KLA WI-2280晶圓檢測機臺 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
國外
|
|
KLA AIT UV晶圓檢測設備 |
KLA |
AIT UV |
2003 |
- |
國外
|
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[Semi power-on] 2port(Asyst ISO p |
國外
|
|
KLA Puma 9000晶圓檢測系統 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Ya |
國外
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KLA Aleris CX晶圓檢測系統 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y |
國外
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KLA Surfscan 2.1晶圓檢測系統 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
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國外
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KLA MPV CD2 AMC檢測設備 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
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國外
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KLA MPV CD2 AMC檢測設備 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
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- |
國外
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KLA MPV-CD尺寸量測設備 |
KLA |
MPV-CD |
- |
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國外
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KLA SFS7700顆粒測試儀設備 |
KLA |
SFS7700 |
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國外
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KLA Ergolux表面輪廓儀 |
KLA |
Ergolux |
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國外
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KLA INM100+INS10顯微鏡 |
KLA |
INM100+INS10 |
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國外
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KLA CI-T53P檢測設備 |
KLA |
CI-T53P |
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1 SET |
國外
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KLA ICOS T830測試系統 |
KLA |
ICOS T830 |
- |
1 SET |
國外
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KLA candela CS20表面分析儀 |
KLA |
CS20 |
2011 |
4-8"設備完整不缺件;
卡盤尺寸：3.7"
光學頭組件：
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國外
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KLA Leica AT500激光跟蹤儀 |
KLA |
AT500 |
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1 SET |
國外
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頁次：
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